Vertiefung zur Oberflächentopographie
Optische Verfahren, 2D- und 3D-Parameter, Sonderfälle der Oberflächenmessung
Vertiefung zur Oberflächentopographie
Dr. Martin Jech
AC²T research GmbH, Linz Österreich)
Aufbauend auf dem Grundlagenseminar Oberflächentopographie werden in diesem Seminar die Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächenstrukturen vertieft. Sie beschäftigen sich mit weiteren 2D-Kennwerten sowie mit 3D-Oberflächenparametern, die sich zunehmend in der Industrie verbreiten. Zu deren Berechnung werden die Oberflächenstrukturen mit optischen Messmethoden erfasst. Das ermöglicht eine dreidimensionale und somit vollständige Charakterisierung der Topographie. Dadurch lässt sich die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche passgenau mit funktionsgerechten Kennwerten beschreiben. Der Umgang mit den Sonderfällen der Oberflächenmessung wird erläutert, z.B. die Themen starke Formabweichungen, kurze Messstrecken, Oberflächenfehler und Drallstrukturen von Wellen. Abschließend werden die Auswirkungen gängiger Fertigungsverfahren auf die Oberflächenmikrostruktur und somit auf die funktionalen Eigenschaften dargestellt.
Ziel der Weiterbildung
Sie lernen spezielle Kennwerte zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen kennen und üben den Umgang mit Sonderfällen der Oberflächenmessung. Im Seminar wird die optische Oberflächenmessung behandelt sowie die Bedeutung der 3D-Oberflächen-Parameter erläutert. Die Teilnehmer:innen werden in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte 2D und 3D zielgerichtet auszuwählen, diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben, Messungen von Oberflächen selbst durchzuführen, sowie deren Ergebnisse qualifiziert zu beurteilen.
HINWEIS
Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ – www.tae.de/60163 – und kann einzeln gebucht werden.
Donnerstag, 13. März 2025
9.00 bis 16.30 Uhr, inkl. Pausen
Profile, Filter, Messbedingungen
- Profile und Filter
- Messbedingungen
Kennwerte und Kennkurven
- dominante Welligkeit
- Oberflächen-Parameter 3D
Oberflächenangabe Zeichnung
- zusätzliche Angaben
- Oberflächen-Parameter 3D
Sonderfälle Oberflächenmessung
- Formabweichungen
- kurze Messstrecken
- Oberflächenfehler
- Drallmessung
- Oberflächenoptik Edelstahl
Optische Messverfahren
- Übersicht
- Verfahren
Fertigungsverfahren
- Verfahren
- Überzüge
Dieses Seminar richtet sich an Entwickler, Konstrukteure, Fertiger, Messtechniker und Mitarbeiter der Qualitätssicherung, die sich vertiefend mit der Definition und Messung der Oberflächengüte beschäftigen
Dr. Martin Jech
Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 573760 Ostfildern
Anfahrt
Die TAE befindet sich im Südwesten Deutschlands im Bundesland Baden-Württemberg – in unmittelbarer Nähe zur Landeshauptstadt Stuttgart. Unser Schulungszentrum verfügt über eine hervorragende Anbindung und ist mit allen Verkehrsmitteln gut und schnell zu erreichen.
Die Teilnahme beinhaltet Verpflegung (vor Ort) sowie ausführliche Unterlagen.
Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
610,00 €
(MwSt.-frei)
vor Ort
610,00 €
(MwSt.-frei)
pro Teilnehmer live online
Fördermöglichkeiten:
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Inhouse Durchführung:
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Bewertungen unserer Teilnehmer
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Herr Dr. Martin Jech hat die theoretischen Grundlagen zur "Vertiefung der Oberflächentopografie" sehr anschaulich vermittelt.
Besonders beeindruckend war für mich der Bezug zu den bereits behandelten Inhalten des Vortags "Grundlagen der Oberflächentopografie" sowie die praxisnahen Anwendungsbeispiele.
Die Präsentation war gut strukturiert, und der Referent vermochte es, den Zuhörer durch seine überzeugende Vortragsweise zu fesseln.
Ich würde mich daher sehr darüber freuen, wenn in Zukunft ein weiteres Seminar zur optischen Vermessung und Auswertung von technischen Oberflächen vom TAE mit dem Referenten Herrn Dr. Jech angeboten würde.