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Vertiefung zur Oberflächentopographie

Optische Verfahren, 2D- und 3D-Parameter, Sonderfälle der Oberflächenmessung

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Vertiefung zur Oberflächentopographie

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Beginn :
13.03.2025 - 09:00 Uhr
Ende :
13.03.2025 - 16:30 Uhr
Dauer :
1,0 Tag
Veranstaltungsnr :
35826.00.005
Leitung
AC²T research GmbH
Präsenz oder Online
EUR 610,00
(MwSt.-frei)
Mitgliederpreis
Im Rahmen des Bezahlprozesses können Sie die Mitgliedschaft beantragen.
EUR 549,00
(MwSt.-frei)
Referent:in

Dr. Martin Jech

AC²T research GmbH, Linz Österreich)

Beschreibung

Aufbauend auf dem Grundlagenseminar Oberflächentopographie werden in diesem Seminar die Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächenstrukturen vertieft. Sie beschäftigen sich mit weiteren 2D-Kennwerten sowie mit 3D-Oberflächenparametern, die sich zunehmend in der Industrie verbreiten. Zu deren Berechnung werden die Oberflächenstrukturen mit optischen Messmethoden erfasst. Das ermöglicht eine dreidimensionale und somit vollständige Charakterisierung der Topographie. Dadurch lässt sich die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche passgenau mit funktionsgerechten Kennwerten beschreiben. Der Umgang mit den Sonderfällen der Oberflächenmessung wird erläutert, z.B. die Themen starke Formabweichungen, kurze Messstrecken, Oberflächenfehler und Drallstrukturen von Wellen. Abschließend werden die Auswirkungen gängiger Fertigungsverfahren auf die Oberflächenmikrostruktur und somit auf die funktionalen Eigenschaften dargestellt.



Ziel der Weiterbildung

Sie lernen spezielle Kennwerte zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen kennen und üben den Umgang mit Sonderfällen der Oberflächenmessung. Im Seminar wird die optische Oberflächenmessung behandelt sowie die Bedeutung der 3D-Oberflächen-Parameter erläutert. Die Teilnehmer:innen werden in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte 2D und 3D zielgerichtet auszuwählen, diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben, Messungen von Oberflächen selbst durchzuführen, sowie deren Ergebnisse qualifiziert zu beurteilen.



HINWEIS
Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ – www.tae.de/60163 – und kann einzeln gebucht werden.

Programm

Donnerstag, 13. März 2025
9.00 bis 16.30 Uhr, inkl. Pausen

Profile, Filter, Messbedingungen 

  • Profile und Filter 
  • Messbedingungen

Kennwerte und Kennkurven 

  • dominante Welligkeit 
  • Oberflächen-Parameter 3D

Oberflächenangabe Zeichnung 

  • zusätzliche Angaben 
  • Oberflächen-Parameter 3D

Sonderfälle Oberflächenmessung 

  • Formabweichungen 
  • kurze Messstrecken 
  • Oberflächenfehler 
  • Drallmessung 
  • Oberflächenoptik Edelstahl

Optische Messverfahren 

  • Übersicht 
  • Verfahren

Fertigungsverfahren 

  • Verfahren 
  • Überzüge
Teilnehmer:innenkreis

Dieses Seminar richtet sich an Entwickler, Konstrukteure, Fertiger, Messtechniker und Mitarbeiter der Qualitätssicherung, die sich vertiefend mit der Definition und Messung der Oberflächengüte beschäftigen

Referent:innen

Dr. Martin Jech

AC²T research GmbH, Linz Österreich)

Veranstaltungsort

Technische Akademie Esslingen

An der Akademie 5
73760 Ostfildern
Anfahrt

Die TAE befindet sich im Südwesten Deutschlands im Bundesland Baden-Württemberg – in unmittelbarer Nähe zur Landeshauptstadt Stuttgart. Unser Schulungszentrum verfügt über eine hervorragende Anbindung und ist mit allen Verkehrsmitteln gut und schnell zu erreichen.

Anfahrt und Parken: TAE - Technische Akademie Esslingen
Gebühren und Fördermöglichkeiten

Die Teilnahme beinhaltet Verpflegung (vor Ort) sowie ausführliche Unterlagen.

Preis:
Die Teilnahmegebühr beträgt:
610,00 € (MwSt.-frei) vor Ort
610,00 € (MwSt.-frei) pro Teilnehmer live online

Fördermöglichkeiten:

Für den aktuellen Veranstaltungstermin steht Ihnen die ESF-Fachkursförderung leider nicht zur Verfügung.

Für alle weiteren Termine erkundigen Sie sich bitte vorab bei unserer Anmeldung.

Andere Bundesland-spezifische Fördermöglichkeiten finden Sie hier.

Inhouse Durchführung:
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WM
Vertiefung zur Oberflächentopographie | 19.03.2024 | verifiziert
Vertiefung zur Oberflächentopografie

Herr Dr. Martin Jech hat die theoretischen Grundlagen zur "Vertiefung der Oberflächentopografie" sehr anschaulich vermittelt.

Besonders beeindruckend war für mich der Bezug zu den bereits behandelten Inhalten des Vortags "Grundlagen der Oberflächentopografie" sowie die praxisnahen Anwendungsbeispiele.

Die Präsentation war gut strukturiert, und der Referent vermochte es, den Zuhörer durch seine überzeugende Vortragsweise zu fesseln.

Ich würde mich daher sehr darüber freuen, wenn in Zukunft ein weiteres Seminar zur optischen Vermessung und Auswertung von technischen Oberflächen vom TAE mit dem Referenten Herrn Dr. Jech angeboten würde.

 

 

FD
Vertiefung zur Oberflächentopographie | 15.03.2024 | verifiziert
Vertiefung zur Oberflächentopographie (35826)

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Dipl.-Ing. Roland Schöll, MBA